BeamAnalyzer Touch
- Описание
- Спецификации
- Скачать документацию
Система высокоточной диагностики луча для непрерывных лазеров. Состоит из прибора Beam Analyzer и нового малогабаритного автономного устройства со встроенным сенсорным экраном.
Запатентованная технология (уникальная топографическая реконструкция 2D/3D изображения), измерения профиля луча, его размера, формы, положения и мощности в широком спектральном диапазоне от 190 нм до 2700 нм, захват лучей размерами от 2 мкм до 10 мм с разрешением 0.1 мкм. Экран LCD - 7 дюймов.
Спецификации
| Параметры | Значение |
| Тип датчика | Silicone (Si), UV-Silicon (UV-Si), InGaAs (IR), InGaAs Enhanced (IRE) |
| Спектральный диапазон | Si: 350 - 1100 нм, UV-Si: 190 - 1100 нм, IR: 800-1800 нм, IRE: 1200 - 2700 нм |
| Number of Blades | 3 for BA3 heads, 7 for BA7 heads |
| Диапазон размера пучка | В зависимости от типа датчика - см. брошюру |
| Разрешение ширины луча | Для лучей > 100 нм в размере: 1 нм. Для лучей <100 нм в размере: 0.1 нм |
| Точность ширины луча | ±2% |
| Диапазон мощности | Для Si & UV-Si heads: 10 нВт - 1 Вт с фильтрами). Для InGaAsheads: 10 нВт до 5 мВт (без фильтров) |
| Мощность точности | Si & UV-Si heads:±5%, InGaAs heads: ±10% |
| Позиционное разрешение | Для лучей > 100 нм в размере: 1 μm. Для лучей <100 нм в размере: 0.1 нм |
| Позиционная точность | ± 15 μm |
| Насыщение | (Si & UV-Si heads) 0.1 Вт/см2 без фильтров, 20 Вт/см2 с NG9 |
| Разрешение | 0.1 нм |
| Частота измерений | 5 Гц |
| Вес | Сенсорная головка с кабелем – 755 г, коллекторная коробка 350 г |
| Рабочая температура | 0 - 35 C |
| PC интерфейс | USB 2.0 (PCI опционально) |
| Дополнительные аксесуары: | |
| SAM3-B | Beam Sampler, with mounting adapter- sampling reduction factor 0.0016 average |
| BA-Fiber | A fiber adapter with an FC connector |
| BA-Mount | A mount enabling head rotation about the optical axis |
