BeamAnalyzer

Для юридических лиц Добавить в заявку

Описание
Спецификации
Скачать документацию

Прибор для высокоточной диагностики луча для непрерывных лазеров. Работает в широком спектральном диапазоне от УФ до 2700нм, захват лучей размером от 2 мкм до 10 мм с разрешением 0.1 мкм

Спецификации

Тип дачика Silicone (Si), UV-Silicon (UV-Si), InGaAs (IR), InGaAs Enhanced (IRE)

Спектральный диапазон Si: 350 - 1100 нм, UV-Si: 190 - 1100 нм, IR: 800-1800 нм, IRE: 1200 - 2700 нм

Number of Blades 3 for BA3 heads, 7 for BA7 heads

Диапазон размера пучка В зависимости от типа датчика - см. брошюру

Разрешение ширины луча Для лучей > 100 нм в размере: 1 нм. Для лучей <100 нм в размере: 0.1 нм

Точность ширины луча ±2%

Диапазон мощности Для Si & UV-Si heads: 10 нВт - 1 Вт с фильтрами). Для InGaAs heads: 10 нВт до 5 мВт (без фильтров)

Мощность точности Si & UV-Si heads:±5%, InGaAs heads: ±10%

Позиционное разрешение Для лучей > 100 нм в размере: 1 μm. Для лучей <100 нм в размере: 0.1 нм

Позиционная точность ± 15 нм

Насыщение (Si & UV-Si heads) 0.1 Вт/см2 без фильтров, 20 Вт/см2 с NG9

Частота измерений 5 Гц

Вес Сенсорная головка с кабелем - 755 г, коллекторная коробка 350 г

Рабочая температура 0 - 35 C

PC интерфейс USB 2.0 (PCI опционально)

BeamAnalyzer

Спецификации

Рекомендуемые позиции