Назад
ПараметрыЗначение
Спектральный диапазонSi: 400 - 1100 нм, InGaAs: 800 - 1800 нм, UV-Enhanced: 190 - 1100 нм
Диапазон Мощности Луча100 мВт - 1 Вт (с поставленными внутренними фильтрами для версии Si), 100 мВт - 5 мВт for InGaAs & UV versions
Количество ножевых кромок7
Размер луча15 мм в диаметре с объективом (Si & UV versions), 7 мм без объектива (Si & UV versions), 3/5 мм в диаметре с объективом (InGaAs ver)
Максимальное Расхождение10 мрад (без объектива)
Beam Waist to Lens Distance2 до 2.5 метров оптимально, 2 метра минимум
Вес2.5 кг (без сенсорной головки Super Beam Analyzer)
Размеры100 x 173 x 415 мм
МонтажM6 или 1/4" screws
Механическая регулировкаГоризонтальный угол: ±1.5°, вертикальный угол: ±1.5°
Кабель2.5 м в длину
ТочностьWaist positions as measured at the Transformed Waist: V Axis: ±50 μm, W Axis: ±50 μm, Z Axis: ±50 μm, M2 Value: ±10%

Прибор для измерения М2.

M2Beam предоставляет аналитические и графические возможности измерять показатель М2 по 2 осям, размер «перетяжки» и расположение непрерывных лазеров. М2 фактор измеряется в соответствии с предложенной ISO/CD-11 146.
Кроме того, прибор измеряет ширину профиля, положение и мощность лазерного пучка на пересечении точек распространения луча вдоль оси.
М2 измерительная система может применяется вместе с Super BeamAlyzer™.

Измерения:

  • Распространение Луча (М2)
  • Размер перетяжки
  • Диаметр перетяжки
  • Дивергенция
  • Диапазон Рэлея
  • Асимметрия перетяжки
  • Астигматизм

Оставить
отзыв

Рейтинг: 4.3 (13 отзывов)

С этим товаром покупают